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Prüfkopf
Der Prüfkopf ist die zentrale Detektionskomponente eines Scanning Acoustic Microscope (SAM/SAT)-Systems. Er sendet und empfängt hochfrequente Ultraschallsignale und wandelt die empfangenen Echos in elektrische Signale zur weiteren Analyse und Bildverarbeitung um. Frequenzbereich, Empfindlichkeit und Auflösung des Prüfkopfs beeinflussen maßgeblich die Eindringtiefe, Bildqualität und Fehlererkennungsfähigkeit des Systems.
Der Prüfkopf eignet sich für die zerstörungsfreie Prüfung von Halbleiter-Packages, Leistungsmodulen, wassergekühlten Platten, Verbundwerkstoffen sowie weiteren Präzisionsbauteilen. Er ermöglicht die hochgenaue Erkennung von inneren Defekten, Delaminationen, Rissen, Hohlräumen und strukturellen Anomalien.
Anwendungsbereich
Produktvorteile
- Hohe Empfindlichkeit
- Hochauflösende Bildgebung
- Breites Anwendungsspektrum
- Zuverlässiger Betrieb
Technische Daten
- Hochempfindliche Ultraschalldetektion
- Hochauflösende Bildgebung
- Verschiedene Frequenzbereiche verfügbar
- Geeignet für zerstörungsfreie Prüfung (NDT)
- Lange Lebensdauer
Präzise Schneiden von Textilien, Folien, Gummi, Verbundmaterialien, Reifencord und ähnlichen Materialien.
Auswahl- und Konstruktionsberatung auf Basis von Werkstoff, Geometrie und Prozessanforderungen des Kundenbauteils.
Erhöht oder reduziert die vom Konverter bereitgestellte Amplitude und optimiert so die Ultraschallenergie für unterschiedliche Werkstücke und Prozesse.
